冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱,冷热循环试验箱;用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,*工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具
执行满足标准及试验方法
GJB150.5 温度冲击试验
GJB360.7温度冲击试验
GB/2423.22 温度冲击试验
冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验,是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
冷热冲击试验作为一种测试方法,应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的:
1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷;
2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据;
3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。
常见的执行标准
1、GJB 150《*设备环境试验方法》
2、GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》
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