检测认证报告 绍兴第三方检测机构冷热冲击测试如何申请办理

冷热冲击试验箱的作用和特点，冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，*工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
冷热冲击试验箱的特点有：1.产品外形美观、结构合理、工艺、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采特之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.
2.采用采用的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习*,稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;
3.箱体左侧具一直径50之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。可立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
4.具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性
5.可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜.出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，贝尔冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。
6.冷冻系统采用复迭低温回路系统设计，冷冻机组采用原装进口压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R507，R23.强安全保护功能:电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、温保护、报警声讯提示等。

热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经较高温及较低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物伤害。

温度冲击测试|冷热冲击试验的作用检测产品测试标准
温度冲击也称高低温循环du冲击或者冷热冲击zhi，此试dao验的机理是：利用物体中所zhuan含物质的在不shu同温度情况下因热胀冷缩所产生的应力考验产品的质量，一般有LED都要做的，此实验本身是一个破坏性实验. 温度范围 -45度---+105度 每隔半小时一个循环，一般要做至少50循环以上。
冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度快速变化的影响。用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。
需要进行冷热冲击检测的产品：
电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等，PCB、PCBA；
电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、器械；
计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、设备等精密仪器等；
道路交通类：道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等；
其他：包装箱、运输设备等。
测试参考标准：
GB/T 2423.22；
IEC 60068-2-13；
IEC 60068-2-14；
EIA-364-32；
MIL-SD-202；
GJB 150.5等。
温度冲击试验的目的：
1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；
2、产品定型或设计和批产阶段验收决策提供依据；
3、作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。
冷热冲击是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试项目，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数、性能及使用的适应性，适用于学校，工厂，，研位，电器等企业单位。

冷热冲击测试需要满足很多试验标准，本文以液体式冷热冲击箱为例。
    1. GB/T2423.1-2001低温试验方法；
    2. GB/T2423.2-2001；
    3. GB/T2423.22-1989温度变化试验N；
    4. 标GJB150.3-86；
    5. 标GJB150.4-86；
    6. 标GJB150.5-86；
    7. GJB150.5-86温度冲击试验；
    8. GJB360.7-87温度冲击试验；
    9. GJB367.2-87 405温度冲击试验；
    10. SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；
    11. 满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；
    12. GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；
    13. GB/T 2423.22-2002温度变化；
    14. QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则；
    15. EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。
 以上未提到的，关于冷热冲击测试中，引起温度变化及温度变化的现场条件在“GB/T 2423.22-2012 环境试验 2部分 试验N:温度变化”中有提到：
    温度变化的现场条件
    电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时，其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。
下列情况下，可预见快速的温度变化：
    ——当设备从温暖的室内环境转移到寒冷的户外环境，或相反情况时；
    ——当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时；
    ——安装于外部的机载设备中；
    ——在某些运输和贮存条件下。
    通电后设备中会产生高的温度梯度，由于温度变化，元器件会经受应力，例如，在大功率的电阻器旁边，辐射会引起邻近元器件表面温度升高，而其他部分仍然是冷的。
    当冷却系统通电时，人工冷却的元器件会经受快速的温度变化。在设备的制造过程中同样可引起元器件的快速温度变化。温度变化的次数和幅度以及时间间隔都是很重要的。
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